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殼牌閥門TAT測試要求的在低溫-常溫-高溫的循環(huán)試驗、連環(huán)開關試驗、微泄露試驗、扭矩測試等苛刻的測試和試驗，它的啟用對閥門在常溫、高溫、低溫、再常溫環(huán)境下及不同工作壓力下和啟閉循環(huán)次數下的泄漏情況進行準確的測試和評價。閥門逸散試驗、閥門低溫試驗、閥門高溫試驗、殼牌工業(yè)閥門型式試驗（TAT）、天然氣閥門型式試驗（GIS）、閥門失效分析、自動閥門性能診斷試驗等。隱石檢測咨詢電話：18921519533
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